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取扱メーカー: ABI ElectronicsPRINCIPAL PRODUCTS

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イギリス
主要製品
テスト機器、計測機器
用途
航空宇宙、防衛
メーカーURL
http://www.abielectronics.co.uk/
ABI Electronics社はテスト・計測機器のメーカーです。
ABI社の各種製品は様々な機器やデバイスの計測に幅広く対応し、多くの方が簡単に使用することができます。
分かりやすいユーザーインターフェイスとデータの共有により短時間で検査を終了し、生産やメンテナンスの現場から不具合品が流出することを防ぎます。

SYSTEM 8 について

ABI社の主要製品であるSYSTEM8は全ての機能を有したフルパッケージタイプに加え、お客様が必要とされる計測内容により構成機材の組み合わせをカスタマイズいただけます。後からの追加も可能なため予算に応じてご検討ください。
VI特性分析 回路診断 デジタルIC診断
アナログIC診断 計測器ユニット 電源ユニット
* 画像をクリックいただくと詳細な説明に移動します

製品ラインアップ

 製品名 製品説明 
BoardMaster 19" Rack
ABI BoardMaster (19インチラック用)は、ほとんどのプリント基板での不具合発見をサポートする19種類の機能を取り揃えていることから多用途にてご使用いただけます。鉄道輸送、航空宇宙、軍事、自動車、通信、その他産業問わず社内での作業時間短縮やコスト削減にご活用いただけます。
RevEng_Schematic_Learner
回路図作成サポート
サンプルボードを用いた高品質の回路図作成をサポートします。
本機器はABI社のPC制御された測定装置とSYSTEM8のソフトウェア及びCADパッケージのEdWin XPを装備しており、サンプルボードの接続性を元にNetList(構成と接続のリスト)を作成し、NetListをEdWin XPにインポートすることで回路図を作成することができます。
SENTRY
偽造ICや偽造部品を素早く検出可能
2ピンデバイスから複雑なBGAまで、各種アダプタを使用してICをセットし、PCソフト内ライブラリと比較し、VIカーブ(電圧/電流特性)と合わせ結果を素早く表示します。
<主な機能>
・様々な形状・ピン数(256pinまで)のパッケージに対応。
・型番ごとに資料(データシート・写真・マーキング情報等)を追加・保存可能。
JTAGMaster
本機器はプログラマブル・ロジック・デバイス(PLD)のプログラミングと診断を完全一体で行えます。バウンダリスキャンテストは個々のピンを測定し機能性を診断します。このデータは画像やデータシートを用いたカスタマイズ可能なテスト手順として保存ができます。一方、プログラミング機能は 業界標準のJAM STAPL(標準テストとプログラミング言語)とSVF(シリアルベクターフォーマット)を扱うことのできるインターフェイスを装備しています。この2つの機能により、カスタマイズされたプログラムのダウンロードやプログラム後の再テストを通して機能の確認ができます。
ChipMaster - LinearMaster
LinearMasterは、低価格のハンディタイプのアナログICテスターです。 ZIFソケットを使用し最大16ピンのアナログICをテストでき、デジタルICは最大40ピンまでテストできます。(SOIC・PLCCも別売のアダプタを使用してテスト可能)
<主な機能>
· 内臓ライブラリとの比較
· 未知のICを確認
· 個々のピンの診断情報の表示
ソフトウェア
本専用ソフトを使用してPCから各モジュールの一括操作が可能です。
<特徴>
・ソフトは1枚で複数台PCにダウンロード可能
・多くのICデータを収録し、ICデータは追加や作成したテストレポートの他者との共有も可能。
・テスト手順に従って操作するので専門家や熟練した技術者でなくても作業可能。(テスト手順はカスタム可能。)
・データシートや画像・図面・特記事項等を保存し、以降のテストに活用。(他者への申し送りが可能)
アクセサリー
ABI社では単純なDual-In-Line (DIL)をはじめピッチQFPまで広範囲での使用をカバーするため、様々なアクセサリをご用意しております。
トレーニング
ABI社では製品についてご理解いただくためトレーニングコースを提供しております。トレーニングはイギリス本社にて行われます。
トレーニングとは別にサポートは随時行いますので、別途ご相談ください。
SYSTEM8 Custom Solutions
ABI社では、一般的なテスト・コンビネーションをカバーするためにアナログおよびデジタル・テスト技術の両方を含めた広範囲適用のスターター・パッケージをご用意しております。 SYSTEM 8モジュールは貴社に合わせたコンビネーションにて機能を組み合わせることが可能です。
Advanced Matrix Scanner
全てのロジック部品の回路機能テストができ、機能・電圧・接続・熱・V-I特性テストを組み合わせることによって短時間で故障を見つけ出すことが可能です。
<主な機能>
• インサーキットテスト(IC機能テスト) (TTL, CMOS, LVTTL, ECL, DTL, LSI, RTL, PECL, LVPECLなど...)
• 電源オン/電源オフでのテスト
• 電圧駆動及び測定とV-I分析による基板検査機能
Board Fault Locater
基板の電源OFFの状態でVI特性分析ができ、電流の漏れや不良部品、一貫性のないデバイスの特定ができ、部品劣化を事前に把握し故障・トラブルを未然に防げます。
<主な機能>
• 周波数スイ-プでのV-I特性分析
• 設定された周波数でのV-I特性分析
• 複数設定でのマトリックスV-I特性分析(64ch)
• パルス出力でのダイナミックV-T特性分析
Advancet Test Module
デジタルICのイン&アウト サーキットテストと基板の良、不良を64chステップ(256chまでアップグレード可能)のライブでの比較が可能です。
<主な機能>
• イン&アウト サーキットテスト (TTLもしくはCMOS)
• スルーホールもしくは表面実装テスト(DIL, SOIC, PLCC, QFP)
• デジタルV-I テスト
• デジタルICの識別
Analogue IC Tester
アナログ IC、個別半導体の機能診断ができ、回路図不要での診断ができアナログ、デジタル部品の電源オフでのV-Iテストも可能です。
<主な機能>
• アナログ機能診断
• ボード比較による故障診断及び可・不可判定
• 24アナログチャンネル
• 自動クリップ位置設定
Multiple Instrument Station 4
1台で8種類の機能を備えた計測器ユニットです。
測定する回路や基板と計測器ユニットを直接接続し、パソコンでユニットを制御し、計測表示やデータ収集を行います。
<主な機能>
• デジタルオシロスコープ(独立した3つのチャンネル)
• 任意波形ジェネレータ(6つの基本波形+任意波形)
• ユニバーサル周波数カウンター
• ユニバーサル I/O(8chプログラマブル8チャンネル)
• 電流計、電圧計、抵抗計、補助電源
Valiable Power Supply
ユニットに必要な電源を供給し、SYSTEM8のモジュールをサポートする電源ユニットです。オン/オフも自動的に切り替えが可能です。
<主な機能>
• 電圧を2.5V~6Vまで調整可能。
• 電圧の制限を-24V~0Vと0V~+24Vまで調整可能。


バナースペース


アスコット株式会社

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